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    物探讲座[J]. 中国地质, 1962, (07).
    引用本文: 物探讲座[J]. 中国地质, 1962, (07).
    shu

    物探讲座

      摘要
    • 摘要: 其次,电測深法的勘探深度和电极距离之間并没有一个固定的比例关系,它随地电剖面特点不同而有很大变化范围。在最有利的条件下(标准层电阻率为“无限大”,并且剖面上部沒有很高或很低电阻率的地层),AB/2距离一般要达到标准层的五至十倍或更多些;而在很不利的条件下(标准层电阻率不很高也不很低,或剖面上部有高或低电阻

       

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